ChipCounter

In der Chipfertigung werden einzelne Chips aus Silizium-Wafern herausgesägt und anschließend in Gehäuse eingebaut. Die Wafer selbst entstehen durch ein aufwändiges fotolithografisches Verfahren. Bereits während der Herstellung werden die Wafer auf Fehler geprüft, und defekte Chips werden durch Farbmarkierungen gekennzeichnet.

Die ChipCounter-Software kann hochaufgelöste Bilder der Wafer analysieren, die Chips sowie die Fehlermarkierungen automatisch erkennen und zur Kontrolle oder Weiterverarbeitung ausgeben. Dadurch wird der Prüfprozess effizienter und die Qualitätssicherung optimiert.